Case Study
工业IO板卡通用自动测试系统（ATE）
该案例的核心不是单一仪器堆叠，而是一套Universal Multi-Function Test Platform。同一ATE平台需要适配Analog Input、Analog Output、Digital Input、Digital Output、隔离电源/数字电源、模拟传感器、温湿度控制、流量传感和压力传感控制等不同类型工业板卡。
Case system visual工业IO通用ATE平台架构占位图
Test SoftwareInstrumentationFixtureDUTTraceability
Software, instrumentation, fixture, DUT and production data integration.项目概览
面向多类型工业IO、传感控制和电源类板卡的通用多功能ATE平台案例，覆盖模拟、数字、通信、电源、边界扫描、信号生成和切换资源集成。
测试需求
- 同一ATE平台适配多种工业IO及传感控制板卡。
- 按Analog、Digital、Communication、Power、Boundary Scan、Signal Generation和Switching资源分类组织测试能力。
- 集成标准仪器、NI模块、自研继电器板卡和通信PCB，并通过夹具适配不同DUT。
系统架构
Test SoftwareTestStand / LabVIEWDAQ / DIO / Communication / JTAGPower / Load / Switch / ScopeInterchangeable FixtureIndustrial I/O DUT
关键测试项
Analog Input CardsAnalog Output CardsDigital Input CardsDigital Output CardsIsolated Power / Digital Power SupplyAnalog Sensor CardsTemperature / Humidity Control CardsFlow Sensor CardsPressure Sensor Control Cards
工程挑战
- 多种类型IO板卡需要共用一套ATE平台。
- 不同测量、通信、电源和边界扫描资源需要统一调度。
- 标准仪器与昂特普自研板卡需要共同集成。
- Fixture和测试程序需要适配不同DUT型号。
实施方案
- 使用NI LabVIEW和NI TestStand组织自动测试流程、资源调用和测试结果判定。
- 项目配置资源包括Chroma电子负载、Agilent AC/DC Source、Sorensen DC Source、Agilent DMM、Switch Matrix、示波器、NI DIO、NI 6259、NI USB-422、NI CAN、Total Phase SPI/I2C Adapter、JTAG Boundary Scan、IPC、昂特普定制继电器卡、昂特普通信PCB和Frequency Generator。
- 通过可更换夹具连接不同类型工业IO DUT，平台资源按项目配置调用。
工程结果
- 形成面向多类型工业IO板卡的通用多功能ATE平台。
- 测试资源按类别组织，便于后续板卡型号扩展和工程维护。
- 项目配置资源作为Project Configuration呈现，不作为昂特普标准BOM或通用规格。
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相关工程能力
InstrumentationCommunicationHardwareSoftwareSystem Integration
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